[发明专利]增加芯片同测数目的方法无效
| 申请号： | 200510111284.2 | 申请日： | 2005-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN1979197A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | 桑浚之;谢晋春 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种增加芯片同测数目的方法，多台测试仪共同使用一台探针台，共同使用一个探针卡或硬件接口对被测体进行测试，合并多台独立测试仪的测试功能。本发明可增加芯片同测数目，降低设备成本，充分利用测试资源，减少测试时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 增加 芯片 目的 方法 | ||
【主权项】：
1、一种增加芯片同测数目的方法，采用探针卡、探针台和测试仪测试被测物，其特征是，设定多台测试仪中的一台测试仪为主机，其它的测试仪为从机，所有测试仪使用同一个探针卡和同一个探针台，主机将控制测试程序下载到从机中，把测试命令传送给从机，侦测从机的状态，并把各个从机的测试结果取回主机。
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