[发明专利]非易失性存储器以及验证非易失性存储器中的数据的方法有效
| 申请号： | 200510099160.7 | 申请日： | 2005-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN1767069A | 公开（公告）日： | 2006-05-03 |
| 发明（设计）人： | 郑宰镛 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C16/06 | 分类号： | G11C16/06;G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临;王志森 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供一种数据验证方法和/或非易失性存储器，用于同时检测非易失性存储器的一个所选择存储单元的数据，以及验证非易失性存储器的一个不同存储单元的前一个检测数据的编程或擦除状态。可以由感测放大器、锁存器、输入/输出缓冲器和编程/擦除验证电路提供同时检测数据和验证编程或擦除状态的功能，所述感测放大器被配置来从非易失性存储器的存储单元感测数据，所述锁存器被配置来存储由感测放大器感测的数据，所述输入/输出缓冲器被配置来存储在锁存器中存储的数据，所述编程/擦除验证电路被配置来当感测放大器正在感测第二存储单元的数据的同时控制感测放大器、锁存器和输入/输出缓冲器向编程/擦除验证电路提供第一存储单元的前一个感测的数据以验证。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性存储器 以及 验证 中的 数据 方法 | ||
【主权项】：
1.一种非易失性存储器，包括：数据检测电路，被配置来在所选择的存储器的编程或擦除操作后感测一个存储单元阵列的所选择的存储单元的数据；数据存储部件，被配置来存储所感测的数据；以及验证电路，被配置来当数据检测器正在感测新编程或擦除的数据的同时验证在所述数据存储部件中存储的编程或擦除的数据。
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