[发明专利]通过数据压缩处理以测试存储器的方法无效

专利信息
申请号: 200510092901.9 申请日: 2005-08-24
公开(公告)号: CN1921019A 公开(公告)日: 2007-02-28
发明(设计)人: 张丁浩;陈玄同;刘文涵 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00;G11C29/40;G06F11/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种通过数据压缩处理以测试存储器的方法,是利用压缩算法对存储器进行测试,首先将存储器划分至少三块:起始存储器块、缓冲存储器块以及目标存储器块,接着将样本数据存放于起始存储器块,利用压缩算法,将样本数据进行压缩动作,压缩过程中的缓冲数据储存于缓冲存储器块,然后将压缩完成的样本数据存放于目标存储器块,最后将压缩后的样本数据进行解压缩,并且对比解压缩后的样本数据与压缩前的样本数据是否一致,以判断存储器是否有误。采用本发明,利用压缩算法,对存储器中的数据进行压缩和解压缩测试,并验证压缩前与解压缩后的数据是否一致,以对存储器施加较大的压力来测试存储器是否有误。
搜索关键词: 通过 数据压缩 处理 测试 存储器 方法
【主权项】:
1.一种通过数据压缩处理以测试存储器的方法,利用一压缩算法,对一存储器进行施压测试,其特征在于,该方法包含下列步骤:将该存储器划分至少一起始存储器块、一缓冲存储器块以及一目标存储器块;将一样本数据存放于该起始存储器块;通过该压缩算法,将该样本数据进行压缩动作,在该缓冲存储器块中储存压缩过程中的该样本数据的中间过渡数据;将压缩完成后的该样本数据存放于该目标存储器块;将存放于该目标存储器块的压缩后的该样本数据进行解压缩的动作;以及对比解压缩后的该样本数据与压缩前的该样本数据。
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