[发明专利]栅介电层的制造方法无效

专利信息
申请号: 200510092043.8 申请日: 2005-08-16
公开(公告)号: CN1917173A 公开(公告)日: 2007-02-21
发明(设计)人: 陈文吉;陈东波;薛凯安;郑胜鸿 申请(专利权)人: 力晶半导体股份有限公司
主分类号: H01L21/82 分类号: H01L21/82
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种栅介电层的制造方法,首先提供一基底,基底至少可区分为一高压电路区与一低压电路区。然后,于基底上形成第一介电层,第一介电层作为高压电路区中栅介电层之用。之后,于第一介电层上形成掩模层,并图案化掩模层、第一介电层及基底,以于基底中形成沟槽。然后,于基底上形成填满沟槽的绝缘层。移除掩模层与部分绝缘层,暴露出第一介电层的表面。继而,移除低压电路区的第一介电层,暴露出基底的表面。接着,于低压电路区的基底上形成第二介电层,第二介电层的厚度小于第一介电层的厚度。
搜索关键词: 栅介电层 制造 方法
【主权项】:
1、一种栅介电层的制造方法,包括:提供一基底,该基底至少区分为一高压电路区与一低压电路区;于该基底上形成一第一介电层,该第一介电层作为该高压电路区中的栅介电层之用;于该第一介电层上形成一掩模层;图案化该掩模层、该第一介电层与该基底,以于该基底中形成一沟槽;于该基底上形成一绝缘层以填满该沟槽;移除该掩模层,暴露出该第一介电层的表面;移除该低压电路区的该第一介电层,暴露出该基底的表面;以及于该低压电路区的该基底上形成一第二介电层,该第二介电层的厚度小于该第一介电层的厚度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于力晶半导体股份有限公司,未经力晶半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510092043.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top