[发明专利]一种测量IC卡模块抗压强度的方法及测量仪有效

专利信息
申请号: 200510090261.8 申请日: 2005-08-12
公开(公告)号: CN1912571A 公开(公告)日: 2007-02-14
发明(设计)人: 王爱秋 申请(专利权)人: 大唐微电子技术有限公司
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种测量IC卡模块抗压强度的方法,包括如下步骤:将IC卡模块金属条带面朝上置于试验台上,使模块的胶体部分处于悬空状态,使模块的中心与压力杆的轴线位于同一条竖直线上,压头匀速向模块施加压力,IC卡的模块出现断裂时,读出断裂时的压力值f,计算模块的抗压强度P=f/A,A为模块的胶体部分的面积。本发明的测量方法,可以直接测量出模块的抗压强度、并能定性地检测胶体与条带的粘接性能,同时还能检测所用胶体粘接性能的好坏,测量方法简单、直观,易于实现。本发明还提供一种对IC卡模块的抗压强度进行测量的抗压强度测量仪。
搜索关键词: 一种 测量 ic 模块 抗压强度 方法 测量仪
【主权项】:
1.一种测量IC卡模块抗压强度的方法,其特征在于,包括如下步骤:a.将IC卡模块金属条带面朝上置于试验台上,使模块的胶体部分处于悬空状态;b.使模块的中心与压力杆的轴线位于同一条竖直线上;c.压头匀速向模块施加压力;d.IC卡的模块出现断裂时,读出断裂时的压力值f。
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