[发明专利]相位延迟值的测量装置及测量方法无效

专利信息
申请号: 200510087363.4 申请日: 2005-07-28
公开(公告)号: CN1904673A 公开(公告)日: 2007-01-31
发明(设计)人: 陈志忠;王伯萍 申请(专利权)人: 力特光电科技股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙皓晨
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种相位延迟值的测量装置及测量方法,该测量装置包括:一单色光源部,其可发射一连续光源;一光侦测部,设置于该单色光源部的一侧;第一偏光板,设置于该单色光源部与该光侦测部之间;第二偏光板,设置于该第一偏光板与该光侦测部之间;一补偿部,设置于该第一偏光板与该第二偏光板之间。本发明还提供一种测量方法,包括:将一待测体设置于该补偿部与该第二偏光板之间;将该连续光源依序经由该第一偏光板、该补偿部、该待测体以及该第二偏光板而形成一相位补偿光;调整该补偿部的相位延迟值使该光侦测部可以侦测出该相位补偿光强度的极限值。
搜索关键词: 相位 延迟 测量 装置 测量方法
【主权项】:
1.一种相位延迟值的测量装置,其特征在于,包括:一单色光源部,其可发射一连续光源;一光侦测部,其设置于该单色光源部的一侧;第一偏光板,其设置于该单色光源部与该光侦测部之间;第二偏光板,其设置于该第一偏光板与该光侦测部之间;以及一补偿部,其设置于该第一偏光板与该第二偏光板之间,该补偿部可借由一调整方式而改变其相位延迟值。
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