[发明专利]温度校正处理装置无效
申请号: | 200510083554.3 | 申请日: | 2005-07-11 |
公开(公告)号: | CN1734242A | 公开(公告)日: | 2006-02-15 |
发明(设计)人: | 竹井洋次;月泽正雄 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01J1/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 热电堆及热敏电阻在制造阶段,在每个产品中产生标准离差。预想内置于完成品中的热电堆及热敏电阻的特性因每个产品而异。而且,在组装阶段的组装也存在标准离差等的影响,如果保障完成品的测量精度,则存在不能廉价提供的问题。本发明提供的温度校正处理装置,具有:测量相对温度差的受光部;测量上述受光部温度的温度测量电路;和在上述受光部中加上与上述每个监视区域之间的相对温度差、计算出该每个监视区域的温度、并输出计算结果的计算电路;其中在每次测量时,根据上述受光部的温度校正上述计算结果。 | ||
搜索关键词: | 温度 校正 处理 装置 | ||
【主权项】:
1、一种温度校正处理装置,其特征在于,配置为分割监视区域并监视,在具有测量上述监视区域内热量的多个受光单元的温度校正处理装置中,具有:受光部,通过非接触测量与上述各被分割为受光单元的上述各监视区域相对之间的温度差;测量电路,测量上述受光部自身温度的温度;计算电路,由该温度测量电路运算温度与上述相对温度差,计算出上述各监视区域的温度、并输出计算结果;和保持电路,将上述监视区域内设定为已知的基准温度,保持来自测量被设定为该基准温度的上述监视区域内热量时的上述计算电路的计算结果与上述基准温度之差的校正信息;其中,测量结果根据上述修正信息校正上述计算结果。
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