[发明专利]X射线CT系统有效
| 申请号： | 200510081195.8 | 申请日： | 2005-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN1883390A | 公开（公告）日： | 2006-12-27 |
| 发明（设计）人： | 张笑妍;杨艳国 | 申请（专利权）人： | GE医疗系统环球技术有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;张志醒 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明的目的是提供一种X射线CT系统，其不受三维绝对位移引起的重建图像质量下降的影响，该三维绝对位移源自X照射/检测设备旋转期间发生的振动。X射线CT系统使用在扫描架内旋转的X照射/检测设备获取来自对象的表示视图的多个发射的X射线信号，并基于发射的X射线信号重建图像，该X射线CT系统包括：测量设备，使用包含在扫描架中的传感器来测量源自旋转期间发生的振动的X照射/检测设备的三维绝对位移；以及校正设备，基于测量设备测量的值校正表示视图的多个发射的X射线信号。用将相应位移转换为电信号的三个合成变换器实现传感器，其中该相应位移是由X照射/检测设备在基坐标系的三个轴向产生的。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 ct 系统 | ||
【主权项】：
1.一种X射线CT系统，其使用在扫描架内旋转的X照射/检测设备获取来自对象的表示视图的多个发射的X射线信号，并基于所述发射的X射线信号重建图像，所述X射线CT系统包括：测量装置，用于使用包含在所述扫描架中的传感器来测量所述X照射/检测设备的三维绝对位移，所述三维绝对位移源自旋转期间发生的振动；以及校正装置，用于基于所述测量装置测量的值来校正表示视图的所述多个发射的X射线信号。
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