[发明专利]显示面板的制造系统及其制造方法及用于其中的检查装置无效
| 申请号： | 200510080735.0 | 申请日： | 2005-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN1721865A | 公开（公告）日： | 2006-01-18 |
| 发明（设计）人： | 岸田明人;乘松秀行 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王允方 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供一种用来提高最终制造良率经改善的制造系统，以及用于其中的检查装置。通过处理程序进行管理的显示装置的制造系统包括：面板基板制造机构(步骤50)，其形成半导体材料的薄膜以及形成像素的驱动电路；检查机构(步骤20)，其检查所制造的面板基板；以及安装机构(步骤30)，其将包含有机EL或液晶材料的显示媒体安装于经检查的面板基板上。检查机构所具有的检查装置决定检查时像素的各驱动电路中驱动电压的阈值，该阈值可当做面板基板制造机构中决定基板制造参数的基准。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 面板 制造 系统 及其 方法 用于 中的 检查 装置 | ||
【主权项】：
1.一种显示装置的制造系统，其通过处理程序进行管理，且具有面板基板制造机构，其形成半导体材料的薄膜以及形成像素的驱动电路，检查机构，其检查所制造的面板基板，以及安装机构，其在经检查的上述面板基板上安装包含有机EL或液晶材料的显示媒体；其特征在于：上述检查机构决定检查时上述各像素的上述驱动电路中驱动电压的阈值，该阈值供作为上述面板基板制造机构中决定基板制造参数的基准。
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