[发明专利]测试存储器模块和存储器模块的中心单元的方法无效
| 申请号： | 200510077886.0 | 申请日： | 2005-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN1722306A | 公开（公告）日： | 2006-01-18 |
| 发明（设计）人： | 辛承万;苏秉世;徐承珍;韩愉根 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G06F11/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 吕晓章;马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种测试存储器模块的方法，该方法包括：将存储器模块的中心单元转换至透明模式；将对应于第一地址的第一数据提供给存储器模块的中心单元；将存储器模块的中心单元的第一数据提供给存储器的第一地址；将第一期望数据提供给存储器模块的中心单元；向存储器模块的中心单元输出存储在存储器的第一地址处的第二数据；以及将第二数据与第一期望数据进行比较。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 存储器 模块 中心 单元 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试存储器模块的方法，包括：将存储器模块的中心单元转换至透明模式；将对应于第一地址的第一数据提供给存储器模块的中心单元；将存储器模块的中心单元的第一数据提供给存储器的第一地址；将第一期望数据提供给存储器模块的中心单元；向存储器模块的中心单元输出存储在存储器的第一地址的第二数据；以及将第二数据与第一期望数据进行比较。
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