[发明专利]显示器件的检验基板无效

专利信息
申请号: 200510075870.6 申请日: 2005-05-27
公开(公告)号: CN1702864A 公开(公告)日: 2005-11-30
发明(设计)人: 飯塚哲也;山本光浩;田畠弘志 申请(专利权)人: 东芝松下显示技术有限公司
主分类号: H01L27/00 分类号: H01L27/00;H01L21/02
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 钱慰民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 为了能使容易地用阵列测试器检测电气缺陷,本检验基板包括:多条扫描线和多条信号线;与扫描线平行配置的多条存储电容器线;存储电容器元件,其每一个用一部分存储电容器线作为它的电极之一;与信号线的层相同的层形成的并电连接到存储电容器元件的存储电容器上电极;配置在扫描线和信号线的交点上并电连接到存储电容器元件的开关元件;通过使用构成开关元件的电极的两种金属中的至少一种形成的并电连接到扫描线、信号线、存储电容器线和存储电容器上电极中任一种的假布线。
搜索关键词: 显示 器件 检验
【主权项】:
1.一种显示器件的检验基板,其特征在于,包括:多条扫描线和多条信号线,配置成互相交叉;与扫描线一起列阵的多条存储电容器线;存储电容器元件,每个利用一部分存储电容器线作为其电极之一;存储电容器上电极,由与信号线的层相同的层形成,并电连接到存储电容器元件;开关元件,配置在信号线和扫描线的交点上并电连接到存储电容器元件;以及利用构成开关元件电极的两种金属中的至少一种形成的假布线,并电连接到扫描线、存储电容器线、信号线以及存储电容器上电极中的任一个。
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