[发明专利]电路分析方法和电路分析设备无效
| 申请号： | 200510071971.6 | 申请日： | 2005-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN1702660A | 公开（公告）日： | 2005-11-30 |
| 发明（设计）人： | 畑山薰;笹川幸宏 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 罗正云;宋志强 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 根据本发明的电路分析设备包括：电容值提取单元，用于从包括半导体集成电路布局信息的设计信息中提取功能元件的电容值；电容值输出单元，用于根据功能元件的电容值，以有区别的方式在包括半导体集成电路布局信息的设计图上显示该半导体集成电路中的功能元件或者与该功能元件连接的功能元件连接布线，或者包括每一属性电容值运算单元，用于基于功能元件属性库和该功能元件的电容值对每一属性执行电容值的运算，所述功能元件属性库保存有半导体集成电路中功能元件的属性信息；每一属性电容值输出单元，用于输出由每一属性电容值运算单元计算出的每一属性的电容值。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 分析 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、一种电路分析设备，包括：电容值提取单元，用于从包括半导体集成电路的布局信息的设计信息中提取功能元件的电容值；和电容值输出单元，用于依照功能元件的电容值，以有区别的方式在包括该半导体集成电路布局信息的设计图上显示该半导体集成电路中的功能元件或者与该功能元件连接的功能元件连接布线。
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