[发明专利]光学头力矩器动态参数的测试方法

摘要

本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，在幅值频率和相位特性曲线上，得到力矩器动态参数。本发明的方法，测试速度快、测试精度高、可以测试低频至高频各个频段的动态特性，全面高精度地测试力矩器的动态性能曲线，用于评价力矩器的工作性能，实用性强。

主权项

1、一种光学头力矩器动态参数的测试方法，其特征在于该方法包括以下步骤：(1)在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；(2)力矩器在上述正弦信号的驱动下产生抖动；(3)使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得物镜上该反射点处的抖动速度；(4)对上述速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号Y(f)＝B(f)∠φ(f)，其中B(f)是力矩器在频率为f的正弦信号驱动下位移响应信号的幅值，φ(f)是力矩器在频率为f的正弦信号驱动下的位移响应信号与驱动信号之间的相位差；(5)分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，其中幅值频率特性曲线的横坐标为正弦信号的相应频率f，纵坐标为与该频率f相对应的幅值响应其中相位频率特性曲线的横坐标为正弦信号的相应频率f，纵坐标为与该频率f相对应的相位响应φ(f)；(6)在上述幅值频率特性曲线上，得到下列力矩器动态参数：灵敏度：为10^(G/20)，其中G为幅值频率特性曲线的纵坐标；一阶共振频率f₀：与幅值频率特性曲线的低频段第一个共振峰对应的横坐标频率；一阶共振峰值Q₀：与f₀对应的纵坐标和与5Hz对应的纵坐标之差；二阶共振频率f₁：与幅值频率特性曲线高频段的第二个共振峰处对应的横坐标频率；二阶共振峰值Q₁：与f₁对应的纵坐标和5Hz对应的纵坐标之差；在上述相位频率特性曲线上，纵坐标即为相应频率处的相位。