[发明专利]射线照相设备及处理辐射检测信号的方法无效
| 申请号: | 200510065976.8 | 申请日: | 2005-04-19 |
| 公开(公告)号: | CN1689514A | 公开(公告)日: | 2005-11-02 |
| 发明(设计)人: | 冈村升一 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王霞 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 在垂直延伸的边界两侧发生的像素信号电平差是一类源于像素信号电平分布的信号电平差。因此,可通过把从与像素信号电平分布有关的统计信息(平均值)得到的校正量加在每个像素的信号电平上,减小在像素排列的水平方向上发生的像素信号电平差,以校正每个像素。只在满足统计信息之间异的绝对值至多为预定值的特定条件(条件A或B)时,实行所述校正。从而,可以避免对统计信息之间差的绝对值超过预定值的位置实行校正而产生的假像。 | ||
| 搜索关键词: | 射线 照相 设备 处理 辐射 检测 信号 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于根据辐射检测信号获得射线照相图像的射线照相设备,包括:射线发射装置,用于向待检查对象发射辐射;辐射检测装置,用于检测透过所述对象的辐射;统计计算装置,用于根据所述辐射检测信号计算与像素信号电平的分布有关的统计信息,当在像素排列的水平或垂直延伸的边界两侧发生信号电平差时,所述统计计算装置进行操作,以计算由所述边界划分的两个区域的所述统计信息;以及像素校正装置,用于通过将与所述两个区域的统计信息之间差有关的校正量加在每个像素的信号电平上,进行对每个像素的校正,以减小所述信号电平差。
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