[发明专利]半导体设备及其测试方法无效
| 申请号： | 200510062920.7 | 申请日： | 2005-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN1677563A | 公开（公告）日： | 2005-10-05 |
| 发明（设计）人： | 利穗吉郎;伊藤丰 | 申请（专利权）人： | 尔必达存储器股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/4078 | 分类号： | G11C11/4078;G11C29/00;G06F11/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种用于半导体设备的测试方法，所述半导体设备设置有使用由第一编码和第二编码组成的乘积码以实现存储器的纠错的ECC电路，所述测试方法包括以下步骤：获得通过分别根据第一编码和第二编码的独立校正操作实现的第一通过/失效确定结果和第二通过/失效确定结果；将该结果分别记录在第一失效存储器和第二失效存储器中；执行与第一失效存储器的内容与第二失效存储器的内容有关的指定逻辑运算，如与运算；并根据逻辑运算的结果，对失效位和潜在失效位进行补救。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体设备 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种半导体设备，包括：ECC电路，使用由第一编码和第二编码组成的乘积码，执行存储器的纠错；以及用于使所述第一编码和第二编码中的一个编码独立操作的装置。
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