[发明专利]带有差分信号测量的测试系统有效
申请号: | 200510059371.8 | 申请日: | 2005-03-29 |
公开(公告)号: | CN1677640A | 公开(公告)日: | 2005-10-05 |
发明(设计)人: | 乔治·W·寇奈 | 申请(专利权)人: | 泰瑞达公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 美国麻*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明是有关于一种带有差分信号测量的测试系统,是一种具有易于制造硬件的用于对差分信号进行测量的测试系统。差分信号的两条分支施加到比较器。在比较操作中引入可变偏置。通过对不同偏置电平进行多生测量,可确定差分信号的电平。相对于信号起始的测量时间可以被改变,从而能够绘制信号的曲线。可以通过收集在同一相对时间具有相同偏置电平的数据点集测量由噪声造成的信号的可变性。公开了一种向比较中引入偏置的电路,这样就允许使用预封装的、市场上可以获得的高速比较器进行测量。 | ||
搜索关键词: | 带有 信号 测量 测试 系统 | ||
【主权项】:
1.一种差分信号的测量方法,其特征在于包括以下步骤:a)将该差分信号的每个分支提供给至少具有第一输入端和第二输入端的一个比较器;b)引入多个相比较之偏置电平,当该第一输入端的值超过了该偏置电平在该第二输入端的值时,该比较器的输出是为第一逻辑值;c)接受该比较器输出端的多个样本集,每个偏置电平都具有一个样本集,每个样本集中的每个样本都与信号波形上的一点在时间上相互关联;d)选择一个具有预定逻辑值的预定百分比的值的样本集;和e)在已选择的集中,被用来采集样本的关联的偏压值具有波形上的该点的差分信号值。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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