[发明专利]陶瓷结构件的检查方法无效
| 申请号： | 200510056946.0 | 申请日： | 2005-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN1677099A | 公开（公告）日： | 2005-10-05 |
| 发明（设计）人： | 加藤茂树 | 申请（专利权）人： | 日本碍子株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/18 | 分类号： | G01N23/18;G06T1/00;G06T15/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 熊志诚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及陶瓷结构件检查方法。本发明提供的陶瓷结构件的检查方法，不仅能以非破坏、简便的方式，而且能在短时间内弄清陶瓷结构件内部缺陷的位置和大小，还能把握内部缺陷的正确位置和形状及大小等。该方法是，当沿着陶瓷结构件的整个周边照射X射线，且利用透过的X射线扫描所述陶瓷结构件的全周，测定断层面的X射线吸收系数(CT值)的分布时，照射X射线的X射线管的管电压是400～80kV，且所述X射线管的管电流是2～400mA。 | ||
| 搜索关键词： | 陶瓷 结构件 检查 方法 | ||
【主权项】：
1.一种陶瓷结构件的检查方法，其特征在于：当沿着陶瓷结构件的整个周边照射X射线，且利用透过的X射线扫描所述陶瓷结构件的全周，测定断层面的X射线吸收系数(CT值)的分布时，照射X射线的X射线管的管电压是400～80kV，且所述X射线管的管电流是2～400mA。
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