[发明专利]超导X射线分析器无效
| 申请号： | 200510052720.3 | 申请日： | 2005-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN1667399A | 公开（公告）日： | 2005-09-14 |
| 发明（设计）人： | 笹山则生;田中启一 | 申请（专利权）人： | 精工电子纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/02 | 分类号： | G01N23/02;G01N23/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳;叶恺东 |
| 地址： | 日本千叶*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种超导X射线分析器，其不需要从致冷器中引出极低温度单元就可以获得的分析器结构能够有效地检测X射线，并且可以使用相同的X射线透镜而与样本和检测器之间的距离无关。在样本与检测器之间设置多个X射线透镜，使得样本、多个X射线透镜以及检测器按照上述顺序排成行。样本侧X射线透镜的位置被放置成使得其焦点位于样本上，从而从样本发散的X射线通过多个X射线透镜汇聚到检测器上。检测器侧X射线透镜的位置被放置成使得其焦点位于检测器上。由于以这种方式设置这些部件，所以这种结构其中安装有检测器的极低温度单元被安装在真空容器中而不需要从致冷器中以投影的形式引出。 | ||
| 搜索关键词： | 超导 射线 分析器 | ||
【主权项】：
1.一种超导X射线分析器，包括多个设置在样本与检测器之间的X射线透镜，使得样本、X射线透镜以及检测器按照上述顺序设置成行，使得从样本发散的X射线通过多个X射线透镜汇聚到检测器上，并且使得最靠近样本的X射线透镜的焦点位于样本上，并且最靠近检测器的X射线透镜的焦点位于检测器上，将安装有检测器的极低温度单元安装在真空容器中，而不需要将其从致冷器中以投影的形式引出。
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