[发明专利]制造固态成像器件的方法无效
| 申请号: | 200510051814.9 | 申请日: | 2005-03-02 |
| 公开(公告)号: | CN1665032A | 公开(公告)日: | 2005-09-07 |
| 发明(设计)人: | 边见健 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | H01L27/14 | 分类号: | H01L27/14;H01L27/146;H04N5/335 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 在一种导电类型的半导体衬底1的主表面部分中形成构成光电转换元件的相反导电类型的第一杂质区2和构成传输元件的相反导电类型的掩埋沟道区3,所述传输元件用于传输信号电荷,并且在该半导体衬底上形成第一绝缘膜4。然后,在包含所述掩埋沟道区上的一个区的区域中形成读出电极5,并且形成用于覆盖所述读出电极的第二绝缘膜6。此后,形成侧墙形成膜7a,并且基于一个蚀刻选择比来进行选择性蚀刻,由此在所述读出电极的侧面上形成侧墙7,同时第二绝缘膜置于其间。接着,利用所述读出电极和所述侧墙作为掩膜来进行离子注入,以便以自对准的方式形成一种导电类型的第二杂质区8,接着除去所述侧墙。在不降低灵敏度的情况下能够得到减小的暗电流、稳定的读出电压等,并且可以保持第二绝缘膜足够的厚度。 | ||
| 搜索关键词: | 制造 固态 成像 器件 方法 | ||
【主权项】:
1、一种制造固态成像器件的方法,包括:在一种导电类型的半导体衬底的主表面部分中选择性地形成构成光电转换元件的相反导电类型的第一杂质区;在所述半导体衬底的所述主表面部分中形成构成传输元件的相反导电类型的掩埋沟道区,所述传输元件用于从所述光电转换元件传输信号电荷;在所述半导体衬底上形成第一绝缘膜;在所述第一绝缘膜上、在包含掩埋沟道区上的一个区的区域中形成一个读出电极,用于从所述光电转换元件读出和传输信号电荷;形成用于覆盖该读出电极的第二绝缘膜;在包含第二绝缘膜上的一个区域的半导体衬底上形成侧墙形成膜;进行蚀刻,以使相对于所述侧墙形成膜的蚀刻速度高于相对于所述第二绝缘膜的蚀刻速度,由此选择性地除去所述侧墙形成膜,以便在所述读出电极的侧面上形成由所述侧墙形成膜制成的侧墙,在所述读出电极和所述侧墙之间插有第二绝缘膜;使用所述读出电极和所述侧墙作为掩膜进行离子注入,以在所述光电转换元件的表面上以自对准的方式形成一种导电类型的第二杂质区;以及除去所述侧墙。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





