[发明专利]纤锌矿结构Zn1-xMgxO半导体纳米晶体薄膜的低温制备方法无效

专利信息
申请号: 200510049983.9 申请日: 2005-06-07
公开(公告)号: CN1727516A 公开(公告)日: 2006-02-01
发明(设计)人: 吴惠桢;邱东江;陈乃波;徐天宁;余萍 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: C23C14/30 分类号: C23C14/30;C23C14/54;C23C14/06;C23C14/58;H01L21/203
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司 代理人: 盛辉地
地址: 310027*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种纤锌矿结构Zn1-xMgxO(0≤x≤0.36)半导体纳米晶体薄膜的低温制备方法,其特征是采用电子束加热蒸发(MgO)y(ZnO)1-y,靶材,y为原子个数比,0≤y≤2%,并在电离的O气氛中沉积Zn1-xMgxO半导体纳米晶体薄膜,即由电子枪发射出高能电子束,电子束经聚焦后直接轰击由高纯MgO、ZnO粉末按一定组分配比、并经高温烧结而成的(MgO)y(ZnO)1-y靶材,电子束的动能变成热能,使得热蒸发的ZnO和MgO分子离开表面,散射并沉积到已加热的衬底表面,再通过扩散运动形成晶核,晶核连续生长以形成晶粒均匀致密、表面平整的纳米晶体薄膜,最后是低温沉积的ZnMgO纳米薄膜在氧气气氛中经高温300~600℃退火处理,制备得到纤锌矿结构Zn1-xMgxO(0≤x≤0.36)半导体纳米晶体薄膜。
搜索关键词: 锌矿 结构 zn sub mg 半导体 纳米 晶体 薄膜 低温 制备 方法
【主权项】:
1、一种纤锌矿结构Zn1-xMgxO(0≤x≤0.36)半导体纳米晶体薄膜的低温制备方法,其特征是采用电子束加热蒸发(MgO)y(ZnO)1-y,靶材,y为原子个数比,0≤y≤2%,并在电离的O气氛中沉积Zn1-xMgxO半导体纳米晶体薄膜,即由电子枪发射出高能电子束,电子束经聚焦后直接轰击由高纯MgO、ZnO粉末按一定组分配比、并经高温烧结而成的(MgO)y(ZnO)1-y靶材,电子束的动能变成热能,使得热蒸发的ZnO和MgO分子离开表面,散射并沉积到已加热的衬底表面,再通过扩散运动形成晶核,晶核连续生长以形成晶粒均匀致密、表面平整的纳米晶体薄膜,最后是低温沉积的ZnMgO纳米薄膜在氧气气氛中经高温300~600℃退火处理,增大其晶粒尺寸,具体工艺步骤如下:(a)纯度≥99.99%MgO、ZnO粉末,按Mg组分0≤y≤2%组分配比混和,经机械碾磨、压制定型,并经高温1000~1500℃烧结,形成(MgO)y(ZnO)1-y靶材;(b)洗衬底并装入衬底架,置(MgO)y(ZnO)1-y靶材于坩锅中,用挡板隔离靶材料和衬底;(c)用扩散泵抽反应室真空至3×10-3Pa的真空度;(d)加热衬底至200~300℃的生长温度;(e)将高能聚焦电子束对准(MgO)x(ZnO)1-x靶材,调节电子束束流,在5~15mA较低的束流下加热靶材,以便对靶材除气;除气结束后将束流调节到0mA;(f)以适当流量5~10sccm充入纯度为99.99%的高纯氧气,使反应室内的真空度达到3.0×10-2Pa并保持恒定,使薄膜生长在富氧的条件下进行,以减小氧空位引起的缺陷密度;(g)调节电子束束流至30~40mA,使(MgO)y(ZnO)1-y靶材开始蒸发,根据生长速率快慢的不同要求,通过调节电子束束斑面积、束斑中心位置等参数,将(MgO)y(ZnO)1-y靶的蒸汽压的分压强控制在1.0×10-2Pa~5.0×10-2Pa,使(MgO)y(ZnO)1-y靶材稳定、均匀地蒸发,打开挡板生长Zn1-xMgxO(0≤x≤0.36)半导体纳米晶体薄膜;(h)Zn1-xMgxO(0≤x≤0.36)半导体纳米晶体薄膜生长到所需厚度,结束生长;(i)生长过程结束后,进入高温退火处理阶段,此时关闭生长室的抽气阀门,继续以原流量充入高纯氧气,调高衬底温度300~600℃,并最后将衬底温度维持在450℃,保温1小时;(j)氧气气氛中退火1小时后,切断衬底加热电源,衬底降温,待衬底温度降至100℃后关氧气阀。
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