[发明专利]纳米材料相转移侦测装置及方法无效
| 申请号： | 200510036493.5 | 申请日： | 2005-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN1912584A | 公开（公告）日： | 2007-02-14 |
| 发明（设计）人： | 陈升熙 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/33 | 分类号： | G01N21/33;G01N21/31 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种纳米材料相转移侦测装置，其包括：一第一容器；一第二容器；一加热装置；一光源；以及一光谱侦测器。其中该第一容器用于盛装一待测纳米流体；该第二容器包括一光入射面及与该光入射面相对的一光出射面，且与所述第一容器密封连接；该加热装置以供加热该纳米流体；该光源用于提供一光束经由该光入射面入射到所述第二容器内；该光谱侦测器用于接收由该光出射面出射的光束以侦测该纳米材料之特征吸收峰。本发明还提供一种纳米材料相转移侦测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 材料 转移 侦测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种纳米材料相转移侦测装置，其包括：一第一容器，用于盛装一待测纳米流体；一第二容器，其包括一光入射面，与该光入射面相对的一光出射面，该第二容器与所述第一容器密封连接；一加热装置，用于加热所述纳米流体；一光源，用于提供一光束经由该光入射面入射到所述第二容器内；一光谱侦测器，用于接收经由所述光出射面出射的光束以侦测所述纳米流体中纳米材料的特征吸收峰。
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