[发明专利]高密度光盘的缺陷存储区域管理方法及其装置无效
申请号: | 200510030190.2 | 申请日: | 2005-09-29 |
公开(公告)号: | CN1941140A | 公开(公告)日: | 2007-04-04 |
发明(设计)人: | 朴成浣 | 申请(专利权)人: | 上海乐金广电电子有限公司 |
主分类号: | G11B20/10 | 分类号: | G11B20/10;G11B20/12;G11B20/18;G11B7/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 王月珍 |
地址: | 201206上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明是关于高密度光盘的缺陷存储区域管理方法及其装置,是能够有效地对蓝光盘之类的高密度光盘在读取数据时所检测到的缺陷存储区域进行管理的方法及其装置。本发明的光盘缺陷存储区域管理方法及其装置,当在对上述光盘上的数据进行实时读取时检测到缺陷存储区域的情况下,就不会继续将准备存储到上述缺陷存储区域内的数据存储到上述缺陷存储区域内,而是将其进行替代存储,并将有关上述缺陷存储区域的信息进行记录并加以管理。本发明能够更加有效地对上述高密度光盘进行管理,从而就使得数据的存储和读取更加顺利。 | ||
搜索关键词: | 高密度 光盘 缺陷 存储 区域 管理 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
1、一种高密度光盘的缺陷存储区域的管理方法,是对于可以将光盘区分为导入区域、数据区域、导出区域而对数据进行存储的高密度光盘,其特征在于包括:当在对存储在上述光盘上的数据进行实时读取时检测到缺陷存储区域的情况下,就不会继续将准备存储到上述缺陷存储区域内的数据存储到上述缺陷存储区域内,而是将其进行替代存储,并将有关上述缺陷存储区域的信息进行记录并加以管理。
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