[发明专利]超快时间分辨X射线谱仪无效
申请号: | 200510025559.0 | 申请日: | 2005-04-29 |
公开(公告)号: | CN1687762A | 公开(公告)日: | 2005-10-26 |
发明(设计)人: | 陈建文;高鸿奕;李儒新;朱化凤;干慧倩;徐至展 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种超快时间分辨X射线谱仪,包括飞秒激光器,其特征是在所述的飞秒激光器的激光输出光路上安置一分束器,该分束器的反射光经由光学延迟线到达样品,构成对样品的作用光束,在该分束器的透射光经全反射镜入射在光阴极X射线二极管上,该光阴极X射线二极管产生的X射线入射到样品上,探测作用光束产生瞬态结构变化的过程,然后入射在硅单晶上,产生的光谱色散被探测器接收,显示在计算机上。本发明可用来研究待测样品的瞬态结构变化导致的光谱变化。 | ||
搜索关键词: | 时间 分辨 射线 | ||
【主权项】:
1、一种超快时间分辨X射线谱仪,包括飞秒激光器(1),其特征是在所述的飞秒激光器(1)的激光输出光路上安置一分束器(2),该分束器(2)的反射光经由光学延迟线到达样品(9),构成对样品(9)的作用光束(A),在该分束器(2)的透射光(B)经全反射镜(3)入射在光阴极X射线二极管(8)上,该光阴极X射线二极管(8)产生的X射线入射到样品(9)上,探测作用光束(A)产生瞬态结构变化的过程,然后入射在硅单晶(10)上,所产生的光谱色散被探测器(11)接收,显示在计算机(12)上。
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