[发明专利]一种用于测量凹抛物面反射镜焦距的设备及方法无效

专利信息
申请号: 200510023678.2 申请日: 2005-01-28
公开(公告)号: CN1645084A 公开(公告)日: 2005-07-27
发明(设计)人: 钮新华;傅雨田 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G02B5/08
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 郭英
地址: 20008*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种用于测量凹抛物面反射镜焦距的设备及方法,该设备包括:45°折转镜和标准抛物镜组成的一个牛顿式平行光管、放在标准抛物镜的光轴焦面上的小孔、漫反射光源、千分表、可伸缩量棒和标准量具。该方法是利用漫反射光源既能够充满小F数被检凹抛物镜的表面,又能够提供一个平端面作为测量基准;千分表的使用可以保证实际测量时可伸缩量棒的两个圆弧端分别与漫反射光源和被检凹抛物镜顶点正好接触。由于是在千分表监控下进行量棒长度调节,并采用标准量具对量棒长度进行标定,因此本发明提供的凹抛物镜焦距测量方法的精度可以达到0.02~0.05mm,焦距越短,测量精度越高。
搜索关键词: 一种 用于 测量 抛物面 反射 焦距 设备 方法
【主权项】:
1.一种用于测量凹抛物面反射镜焦距的设备,其特点在于包括:45°折转镜(5)和标准抛物镜(6)组成的一个牛顿式平行光管、放在标准抛物镜(6)的光轴焦面上的小孔(7)、漫反射光源(3)、千分表(4)、可伸缩量棒(2)和标准量具。
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