[发明专利]使用信号调制的外差光网络分析方法和系统无效
| 申请号： | 200510007351.6 | 申请日： | 2005-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN1652483A | 公开（公告）日： | 2005-08-10 |
| 发明（设计）人： | 波格丹·沙弗兰耶切 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/08 | 分类号： | H04B10/08;H04B10/12 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 肖善强 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供了用于表征被测器件(DUT)的光学性能的方法和系统。如下对被测器件(DUT)的群时延进行测量：在不同频率对本地振荡器信号的测试部分和基准部分进行调制以产生调制边带，将本地振荡器信号的已调制测试部分提供给DUT，然后光学混合两个已调制信号。光学混合两个已调制信号将光频向下转变到电频。由DUT引起的相变通过测量本地振荡器信号测试部分的调制边带之间的相差来确定。可以不用光学混合而用电混合来实现频率转变。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 信号 调制 外差 网络分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种分析光学性能的方法，包括：产生本地振荡器信号；对所述本地振荡器信号的至少一部分进行第一调制；将已进行所述第一调制的所述本地振荡器信号提供给被测器件；接收已进行所述第一调制的所述本地振荡器信号；以及将所述被接收的本地振荡器信号与第二信号进行光学混合。
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