[发明专利]接触空穴、半导体器件、液晶显示器及EL显示器的制法有效

专利信息
申请号: 200510006162.7 申请日: 2005-01-31
公开(公告)号: CN1649096A 公开(公告)日: 2005-08-03
发明(设计)人: 藤井严;城口裕子 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L21/768;H05B33/10;G02F1/133
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 卢新华;庞立志
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在通过制造半导体器件的常规步骤形成接触孔时,要求在基片几乎整个表面上形成一层光致抗蚀剂,而使之涂在除待形成接触空穴的区域以外的薄膜上,从而使处理能力急剧下降。按照本发明形成接触空穴的方法及制造半导体器件、EL显示器及液晶显示器的方法,是在半导体层、导电层或绝缘层上选择性地形成一层岛形有机薄膜,并沿该岛形有机薄膜形成一层绝缘膜以形成接触空穴。因此,不需要利用光致抗蚀剂的常规构成图案,可以达到高处理能力及低成本。
搜索关键词: 接触 空穴 半导体器件 液晶显示器 el 显示器 制法
【主权项】:
1.一种制造半导体器件的方法,包括:在基片形成一层有机薄膜;在该有机薄膜上待形成接触空穴的区域形成一种掩模图案;利用该掩模图案作为掩模,使此有机薄膜构成一种岛形图案;除去此掩模图案;沿此岛形有机薄膜形成一层绝缘膜;通过除去此岛形有机薄膜形成一种接触空穴;及在此接触空穴中形成一种导体。
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