[发明专利]相位延迟的测量装置及测量方法无效

专利信息
申请号: 200510002393.0 申请日: 2005-01-19
公开(公告)号: CN1808090A 公开(公告)日: 2006-07-26
发明(设计)人: 陈志忠;王伯萍 申请(专利权)人: 力特光电科技股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01N21/21
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙皓晨;贺华廉
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种相位延迟的测量装置及测量方法。该测量装置包括一单色光源部、一光检测部、一偏光板以及一极化分光部。该单色光源部发射一脉冲光源,该光检测部设置于该单色光源部的一侧,该偏光板设置于该单色光源部与该光检测部之间,该极化分光部设置于该偏光板与该光检测部之间。该测量方法透过设置一待测体于该偏光板以及极化分光部之间,利用该单色光源部所产生的一单色脉冲光源依序经由该偏光板产生一偏极光、该偏极光通过该待测体、进而产生一相位延迟光,该相位延迟光通过该极化分光部以及该光检测部,以测得一寻常光以及一非寻常光通过该待测体的时间差,经由解调后可以得到该待测体的相位延迟量。
搜索关键词: 相位 延迟 测量 装置 测量方法
【主权项】:
1、一种相位延迟测量装置,包括:一单色光源部,其发射一脉冲光源;一光检测部,设置于该单色光源部的一侧;一偏光板,设置于该单色光源部与该光检测部之间;一极化分光部,设置于该偏光板与该光检测部之间。
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