[发明专利]具有自播种测试功能的多功能样式发生器和比较器无效
| 申请号： | 200510002061.2 | 申请日： | 2005-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN1642118A | 公开（公告）日： | 2005-07-20 |
| 发明（设计）人： | 艾伦·柯蒂斯·内斯科 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于集成电路(IC)上的串行化器/解串行化器电路的多功能样式发生器，包括：通信信道中的样式发生器，所述样式发生器被配置来产生多个测试样式，并且被配置为基于样式选择和用户数据，接收通信信道的输出和用户数据；以及比较器，所述比较器被配置为接收通信信道的输出和样式发生器的输出，其中所述样式发生器用用户数据自播种，所述用户数据包括固定长度位测试样式。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 播种 测试 功能 多功能 样式 发生器 比较 | ||
【主权项】：
1.一种用于集成电路上的串行化器/解串行化器电路的多功能样式发生器，包括：通信信道中的样式发生器，所述样式发生器被配置来产生多个测试样式，并且被配置为基于样式选择和用户数据，接收通信信道的输出和用户数据；以及比较器，配置来接收所述通信信道的输出和所述样式发生器的输出，其中所述样式发生器用所述用户数据自播种，并且其中所述用户数据包括固定长度位测试样式。
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