[发明专利]校验矩阵生成装置和通信装置无效

专利信息
申请号: 200480044145.6 申请日: 2004-10-08
公开(公告)号: CN101036300A 公开(公告)日: 2007-09-12
发明(设计)人: 松本涉 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H03M13/09 分类号: H03M13/09
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 吴丽丽
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 使用规定的信息长度、编码率和列最大次数,计算出用于伪随机数置换矩阵的参数,根据计算出的用于伪随机数置换矩阵的参数,使用伪随机数序列和拉丁方阵矩阵,生成伪随机数置换矩阵,使用规定的信息长度、编码率和列最大次数,计算出用于可以使用伪随机数置换矩阵构成的校验矩阵生成的次数分布的最佳化的、可以取得的次数分布的组合的参数,将计算出的可以取得的次数分布的组合作为约束条件使校验矩阵生成的次数分布最佳化,根据经过最佳化后的校验矩阵生成的次数分布,配置生成的伪随机数置换矩阵,生成低密度奇偶校验码用的校验矩阵。
搜索关键词: 校验 矩阵 生成 装置 通信
【主权项】:
1.一种校验矩阵生成装置,其特征在于,备有:输入规定的信息长度、编码率和列最大次数的信息长度·编码率·列最大次数输入单元;使用输入的上述规定的信息长度、编码率和列最大次数,计算出用于后述的伪随机数置换矩阵的参数的伪随机数置换矩阵用参数计算单元;根据计算出的用于上述伪随机数置换矩阵的参数,使用伪随机数序列和拉丁方阵矩阵,生成上述伪随机数置换矩阵的伪随机数置换矩阵生成单元;使用所输入的上述规定的信息长度、编码率和列最大次数,计算出用于可以使用上述伪随机数置换矩阵构成的校验矩阵生成的次数分布的最佳化的、可以取得的次数分布的组合的参数的次数分布最佳化用参数计算单元;将计算出的上述可以取得的次数分布的组合作为约束条件,根据密度发展法使校验矩阵生成的次数分布最佳化的次数分布最佳化单元;和根据经过最佳化的上述校验矩阵生成的次数分布,配置所生成的上述伪随机数置换矩阵,生成低密度奇偶校验码用的校验矩阵的校验矩阵生成单元。
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