[发明专利]薄膜集成电路器件的制造方法,非接触薄膜集成电路器件及其制造方法,以及包含非接触薄膜集成电路器件的ID标签和硬币有效

专利信息
申请号: 200480037193.2 申请日: 2004-12-14
公开(公告)号: CN1894796A 公开(公告)日: 2007-01-10
发明(设计)人: 山崎舜平;小森美帆;佐藤由里香;细木和江;荻田香 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L29/786;H01L21/336;G06K19/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 为了提供以低成本大量生产的薄膜集成电路,根据本发明的薄膜集成电路的制造方法包括下列步骤:在衬底上面形成剥离层;在剥离层上面形成底部薄膜;在底部薄膜上面形成多个薄膜集成电路器件;在多个薄膜集成电路器件之间的边界处形成凹槽;以及在凹槽中引入包含卤素氟化物的气体或液体,从而去除剥离层;因而使多个薄膜集成电路器件相互分离。
搜索关键词: 薄膜 集成电路 器件 制造 方法 接触 及其 以及 包含 id 标签 硬币
【主权项】:
1.一种薄膜集成电路器件的制造方法,包括下列步骤:在衬底上方形成剥离层;在所述剥离层上方形成底部薄膜;在所述底部薄膜上方形成多个薄膜集成电路器件;在所述多个薄膜集成电路器件之间的边界处形成凹槽;以及在所述凹槽中引入包含卤素氟化物的气体或液体,由此去除所述剥离层,由此使所述多个薄膜集成电路器件分离。
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