[发明专利]薄膜集成电路器件的制造方法,非接触薄膜集成电路器件及其制造方法,以及包含非接触薄膜集成电路器件的ID标签和硬币有效
申请号: | 200480037193.2 | 申请日: | 2004-12-14 |
公开(公告)号: | CN1894796A | 公开(公告)日: | 2007-01-10 |
发明(设计)人: | 山崎舜平;小森美帆;佐藤由里香;细木和江;荻田香 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L29/786;H01L21/336;G06K19/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 秦晨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 为了提供以低成本大量生产的薄膜集成电路,根据本发明的薄膜集成电路的制造方法包括下列步骤:在衬底上面形成剥离层;在剥离层上面形成底部薄膜;在底部薄膜上面形成多个薄膜集成电路器件;在多个薄膜集成电路器件之间的边界处形成凹槽;以及在凹槽中引入包含卤素氟化物的气体或液体,从而去除剥离层;因而使多个薄膜集成电路器件相互分离。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 集成电路 器件 制造 方法 接触 及其 以及 包含 id 标签 硬币 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜集成电路器件的制造方法,包括下列步骤:在衬底上方形成剥离层;在所述剥离层上方形成底部薄膜;在所述底部薄膜上方形成多个薄膜集成电路器件;在所述多个薄膜集成电路器件之间的边界处形成凹槽;以及在所述凹槽中引入包含卤素氟化物的气体或液体,由此去除所述剥离层,由此使所述多个薄膜集成电路器件分离。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的