[发明专利]磁光信息记录介质的热处理判定方法和热处理判定装置

摘要

用来自LD(11)的预定功率的激光束辐照磁光盘(33)，以用于热处理。在热处理之后，用功率小于用于热处理的功率的激光束辐照执行过热处理的区域。较小功率激光束的反射光入射到光学传感器(24、26)上，并检测P波和S波的反射光强度。利用P波和S波的反射光强度，差动检测电路(27)检测与执行过热处理的区域对应的磁光信号的电平。控制器(28)判断由检测电路(28)检测到的磁光信号电平是否处于许可范围之内。如果在该范围之外，则调节用于热处理的激光束功率，停止磁光盘处理，或者显示代表测量结果的信息。

主权项

1.一种热处理判定方法，包括步骤：通过将第一功率的激光束辐照到磁光信息记录介质的道之间的区域来执行磁层的热处理，所述磁光信息记录介质通过将所述磁层叠置到其上已预先形成有所述道的基板上而获得，其中所述磁层由记录层、位移层和交换层构成，所述记录层根据记录信息保持记录磁畴，所述位移层由畴壁矫顽力小于所述记录层的畴壁矫顽力且畴壁位移速度大于所述记录层的畴壁位移速度的垂直磁膜制成，所述交换层布置在所述记录层和所述位移层之间并且其居里温度低于所述记录层和所述位移层的居里温度；将小于所述第一功率的第二功率的激光束辐照到所述被热处理的区域上；从所述第二功率的激光束的反射光检测磁光信号的电平；以及在所述检测到的磁光信号的基础上判定所述热处理是适当还是不适当。