[发明专利]自热老化无效
| 申请号: | 200480030183.6 | 申请日: | 2004-08-06 |
| 公开(公告)号: | CN1867834A | 公开(公告)日: | 2006-11-22 |
| 发明(设计)人: | 杰弗里·诺里斯;理查德·西尔弗利亚 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
| 主分类号: | G01R31/316 | 分类号: | G01R31/316 |
| 代理公司: | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 | 代理人: | 齐永红 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 公开了自热老化的方法和装置。在一个实施方案中,半导体器件包括多个门,用来从多个时钟信号中选择时钟信号的复用器,以响应于所选择的时钟信号来触发所述多个门,从而在内部产生用于老化的热,以及监测内部温度的热传感电路。 | ||
| 搜索关键词: | 老化 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:多个门;复用器,所述复用器从多个时钟信号中选择时钟信号,以便响应于所述选择的时钟信号触发所述多个门,从而从内部生成用于老化的热;以及热传感电路,所述热传感电路用来监测内部温度。
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