[发明专利]用于选择性屏蔽测试响应的方法和系统无效
| 申请号： | 200480027818.7 | 申请日： | 2004-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN1856713A | 公开（公告）日： | 2006-11-01 |
| 发明（设计）人： | H·P·E·弗兰肯;A·格洛瓦茨;F·哈普克 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;梁永 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种用于测试集成电路(10)的设备，包括用于压缩被测试电路(14)的测试响应的压缩器(22)，该被测试电路(14)是集成电路(10)的一部分；和耦合在该被测试电路和压缩器(22)之间的屏蔽电路(18)，用于屏蔽来自该被测试电路(14)的一个或多个测试响应。该屏蔽电路(18)还包括用于接收压缩的屏蔽数据并且提供解压缩的屏蔽数据的解压缩电路。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 选择性 屏蔽 测试 响应 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试集成电路(10)的设备，该设备包括：-压缩器(22)，用于压缩被测试电路(14)的测试响应，该被测试电路(14)是集成电路10的一部分；和-耦合在该被测试电路和压缩器(22)之间的屏蔽电路(18)，用于屏蔽来自该被测试电路(14)的一个或多个测试响应，其特征在于，该屏蔽电路(18)还包括解压缩电路(26，30，36，38)，用于从该设备接收压缩的屏蔽数据(m1-mq)并且为该屏蔽电路(40)提供解压缩的屏蔽数据。
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