[发明专利]用于在高干扰条件下测量电组件的阻抗的方法及装置有效
| 申请号： | 200480026421.6 | 申请日： | 2004-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN1849517A | 公开（公告）日： | 2006-10-18 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·格伦 | 申请（专利权）人： | 豪倍公司 |
| 主分类号： | G01R25/00 | 分类号： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王允方;刘国伟 |
| 地址： | 美国康*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明揭示一种测试系统及方法，其具有一测试信道及一附加信道(212)，且其中确定流过受测试器件(208)中的干扰电流与所述附加信道上的干扰信号之间的振幅及相位的比例。所述系统进一步将在或接近于线路频率的一电压(202)施加至所述受测试器件(208)，并随后从穿过所述受测试器件的所述电流信号中连续减去所述附加干扰信号。在此操作中，所述系统及方法允许精确地测量在或非常接近于所述线路频率下的阻抗的有功及无功功率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 干扰 条件下 测量 组件 阻抗 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种用于精确测量一系统或组件在一预定线路频率下的有功及无功功率的方法，其包括以下步骤：提供一测量信道及一附加测量信道并将一耦合至所述测量信道中的一受测试器件的源设定到零；测量所述测量信道上的一干扰信号n(t)并测量所述附加测量信道上的一干扰信号n′(t)；计算所述干扰信号n(t)与所述干扰信号n′(t)之间的一相位比例及一振幅比例；将所述源设定到一所期望的电压及频率值并测量所述测量信道上的一v(t)及iMEAS(T)信号，且测量所述附加测量信道上的一干扰信号n′(t)，其中通过所述相位及振幅比例调整所述测量的干扰信号n′(t)并将其连续从所述iMEAS(T)信号中减去；及使用所述测量的v(t)及调整的iMEAS(T)信号来计算所述受测试器件的一有功及无功功率、损耗角及功率因数中的至少一者；
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