[发明专利]测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 200480026139.8 | 申请日： | 2004-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN1849518A | 公开（公告）日： | 2006-10-18 |
| 发明（设计）人： | 上林弘典 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人： | 胡光星 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种测试装置及测试方法，用于测试电子元件的测试装置。测试装置包括：多个信号提供部，根据所输入的输入信号，输出用于测试电子元件的输出信号；循环电路，使输出信号进行循环，并作为输入信号输入到用于输出各个输出信号的信号提供部；计数器部，在各个信号提供部，对从输入信号被输入开始到循环信号被输入为止的周期进行测定；以及控制部，用于控制信号提供部将输出信号进行输出的时序，以使计数器部所测定的各个信号提供部的周期大致相同。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，用于测试电子元件，其特征是该测试装置包括：多个信号提供部，根据所输入的输入信号，输出用于测试该电子元件的输出信号；循环电路，使该输出信号进行循环，并做为该输入信号，输入到用以输出各该输出信号的该信号提供部；计数器部，在各该信号提供部，对从该输入信号被输入开始到该循环信号被输入为止的周期进行测定；以及控制部，用于控制该信号提供部将该输出信号进行输出的时序，以使该计数器部所测定的各该信号提供部的该周期大致相同。
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