[发明专利]具有一隔离结构的高电压LDMOS晶体管无效

专利信息
申请号: 200480025933.0 申请日: 2004-07-02
公开(公告)号: CN1849710A 公开(公告)日: 2006-10-18
发明(设计)人: 黄志丰;杨大勇;林振宇;简铎欣 申请(专利权)人: 崇贸科技股份有限公司
主分类号: H01L29/772 分类号: H01L29/772;H01L29/739
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种高电压LDMOS晶体管,包括位于一N型阱的一扩展漏极区中的一P型场区和多个分离的P型场区。P型场区和分离的P型场区在N型阱中形成接面场,其中一漂移区在击穿发生前被完全空乏。因此,获得较高击穿电压并且允许N型阱可具有较高掺杂密度。较高的掺杂密度能够有效减小LDMOS晶体管的接通电阻。此外,在源极扩散区之下生成的N型阱部分为源极区提供一低阻抗路径,其限制了漏极区与源极区之间的晶体管电流。
搜索关键词: 具有 隔离 结构 电压 ldmos 晶体管
【主权项】:
1.一种晶体管,其特征在于其包括:一P型衬底;形成于所述P型衬底中的一第一扩散区以及一第二扩散区;其中含有N型导电离子的所述第一扩散区和所述第二扩散区在所述P型衬底中形成一N型阱;其中所述第一扩散区包括一扩展漏极区;一含有N+型导电离子的漏极扩散区,在所述扩展漏极区中形成一漏极区;一含有P型导电离子的第三扩散区,包括形成于所述扩展漏极区中的一P型场区和多个分离的P型场区;其中所述分离的P型场区与所述P型场区相比更接近所述漏极区,且其中所述P型场区和所述分离的P型场区生成一接面场;一具有N+型导电离子的源极扩散区,在由所述第二扩散区形成的所述N型阱中形成一源极;一通道,形成于所述源极区与所述漏极区之间;一多晶硅栅极,形成于所述通道之上以控制所述通道流动的电流;一含有P+型导电离子的接触扩散区,在由所述第二扩散区形成的所述N型阱中形成一接触区;和一含有P型导电离子的第四扩散区,在由所述第二扩散区形成的所述N型阱中形成一隔离P型阱以防止击穿,其中所述隔离P型阱封闭所述源极区和所述接触区。
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