[发明专利]用于双层记录介质的重现光束功率控制无效

专利信息
申请号: 200480025869.6 申请日: 2004-08-26
公开(公告)号: CN1849656A 公开(公告)日: 2006-10-18
发明(设计)人: C·A·弗舒伦 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G11B11/105 分类号: G11B11/105
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正;陈景峻
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种用于读取磁光记录介质的方法和设备,所述介质包括第一存储层和第二存储层以及读出层,其中,通过利用辐射功率加热并借助于外部磁场将标记区域从所述第一或第二存储层复制到所述读出层,在所述读出层中产生导致读出脉冲产生的扩大磁畴。将所述辐射功率设定为用于从所述第一存储层进行读取的第一值和用于从所述第二存储层进行读取的第二值。在读取操作中确定指示所述第一和第二存储层之间的串扰的参数,之后,根据所述确定参数控制所述辐射功率。因此,可以通过保持读出温度靠近没有读取的另一存储层的补偿温度降低第一和第二存储层的串扰。本发明还涉及一种用在所述方法和设备中的记录介质。
搜索关键词: 用于 双层 记录 介质 重现 光束 功率 控制
【主权项】:
1、一种用于从磁光记录介质(10)中进行读取的读取设备,所述介质包括第一存储层(S1)和第二存储层(S2)以及读出层(RO),其中,通过利用辐射功率加热并借助于外部磁场将标记区域从所述第一或第二存储层复制到所述读出层,而在所述读出层(RO)中产生导致读出脉冲产生的扩大磁畴,所述设备包括:a)设定装置(290),用于将所述辐射功率设定为用于从所述第一存储层进行读取的第一值和用于从所述第二存储层进行读取的第二值;b)确定装置(290),用于确定指示所述第一和第二存储层之间的串扰的参数;和c)控制装置(290),用于根据所述确定参数控制所述辐射功率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司,未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480025869.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top