[发明专利]磁阻随机存取存储器中的错误检测和修正方法及装置无效

专利信息
申请号: 200480023245.0 申请日: 2004-06-03
公开(公告)号: CN1864232A 公开(公告)日: 2006-11-15
发明(设计)人: J·德布罗泽;H·赫尼施密德;R·勒伊施纳;G·米勒 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术股份公司;国际商业机器公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00;G11C11/15
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 吴立明;梁永
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种方法和装置,用于减少磁阻随机存取存储器(MRAM)中的数据错误。根据所公开的方法,将将数据位和相关联的错误修正码(ECC)校验位存储到存储区域中。随后,读出数据位和ECC校验位并且校验和修正任何错误。然后基于计数开始数据刷新,随后通过存取所存储的数据位和相关联的ECC校验位,并且最终通过校验、修正数据位和ECC校验位和将其重新存储到存储区域,从而刷新存储在存储区域中的数据位和相关联的ECC校验位。
搜索关键词: 磁阻 随机存取存储器 中的 错误 检测 修正 方法 装置
【主权项】:
1.在磁阻随机存取存储器(MRAM)中,一种减少数据错误的方法,包括步骤:将数据位和相关联的错误修正码(ECC)校验位存储到存储区域中;读出所述数据位和所述相关联的ECC校验位;和使用所述相关联的ECC校验位来校验和修正所述数据位;和通过存取所述存储的数据位和所述相关联的ECC校验位、使用所述相关联的ECC校验位校验和修正所述数据位、并且将所述数据位和所述ECC校验位重新存储到所述存储区域,从而刷新存储在所述存储区域中的数据位和相关联的ECC校验位,其中基于计数开始所述刷新。
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