[发明专利]用于存储存储单元的故障地址的存储装置和方法无效

专利信息
申请号: 200480021033.9 申请日: 2004-07-13
公开(公告)号: CN1826661A 公开(公告)日: 2006-08-30
发明(设计)人: G·弗兰科夫斯基 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术股份公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正;梁永
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明的实施例针对使用可分类的故障计数/故障地址寄存器的存储芯片的自修复模式。本发明的实施例通过扫描存储器阵列以便定位具有最高缺陷数目的n个元件(WL或CSL)来有效地利用可用的冗余。优选地是,一种电路包括一个或多个比较器,用于把输入寄存器中地址的故障计数与在可分类的故障计数/故障地址寄存器中所存储的至少一个故障计数相比较。本发明的实施例可以用于芯片内冗余计算并且可以处理二维(即行和列)冗余。
搜索关键词: 用于 存储 单元 故障 地址 装置 方法
【主权项】:
1.一种用于存储存储单元的故障地址的方法,所述方法包括步骤:把所述存储单元的多个单元的地址和相应的故障计数存储在寄存器中,直到所述寄存器变满;确定输入寄存器中的多个单元是否具有比在所述寄存器中当前所存储的多个单元的故障计数更大的故障计数;并且如果在所述输入寄存器中的多个单元的故障计数大于在所述寄存器中当前所存储的所述多个单元的所述故障计数,那么用在所述输入寄存器中的地址和相应的故障计数来替换在所述寄存器中的地址和相应的故障计数。
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