[发明专利]插座以及测试装置无效
| 申请号： | 200480021007.6 | 申请日： | 2004-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN1826713A | 公开（公告）日： | 2006-08-30 |
| 发明（设计）人： | 崎山伸 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | H01R33/76 | 分类号： | H01R33/76;G01R1/073;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王昕 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种插座，其与具有多个球形接触器的BGA单元电气连接，此插座在与BGA单元相对向的表面并与多个球形接触器相对应的位置上设置有罩壳，其具有多个直径大于球形接触器直径的通孔。多个接触脚设置于多个通孔内，并与相对应的球形接触器的侧部相接触。多个接触脚的设置最好是使得设置在相邻的通孔中之各个接触脚，其延伸方向互相相反。 | ||
| 搜索关键词： | 插座 以及 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种插座，其特征是其电气连接至具有多个球形接触器的球形栅格阵列单元，该插座包括：罩壳，其在与上述球形栅格阵列单元相对向表面之上述这些球形接触器相对应的位置上，设置有直径大于上述这些球形接触器之直径的多个通孔；以及多个接触脚，设置于上述这些通孔内，且与相对应的上述这些球形接触器之侧部互相接触。
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