[发明专利]在绝缘膜上设置开口部的分析用具有效

专利信息
申请号: 200480017231.8 申请日: 2004-06-15
公开(公告)号: CN1809747A 公开(公告)日: 2006-07-26
发明(设计)人: 小林大造 申请(专利权)人: 爱科来株式会社
主分类号: G01N27/327 分类号: G01N27/327;G01N27/28;G01N33/48;G01N33/50
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种分析用具(X),包括基板(1)、用来使试料沿着基板(1)移动的流路、设置在流路内部的试药部(14)、和具有用来规定形成试药部(14)的区域的开口部(15a)且覆盖基板(1)的绝缘膜(13)。绝缘膜(13)还包括与开口部(15a)相对而沿着纵向(N1)设置的一个以上的附设开口部(15b)。流路例如采用通过毛细管力而使试料移动的构造。
搜索关键词: 绝缘 设置 开口 分析 用具
【主权项】:
1.一种在绝缘膜上设置开口部的分析用具,其特征在于,包括:基板、用来使试料沿着所述基板移动的流路、配置在所述流路内部的试药部、和具有规定用来形成所述试药部区域的开口部且覆盖所述基板的绝缘膜,其中,所述绝缘膜还包括:与所述开口部相比而相对位于所述试料液移动的移动方向下游的一个以上的附设开口部。
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