[发明专利]对象物质的定量方法和定量芯片无效
| 申请号： | 200480016236.9 | 申请日： | 2004-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN1806173A | 公开（公告）日： | 2006-07-19 |
| 发明（设计）人： | 嵨崎隆章;横川昭德 | 申请（专利权）人： | 罗姆股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/49 | 分类号： | G01N33/49;G01N31/22 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龙淳;邸万杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够以短时间进行对象物质定量的定量方法。使用由三维网格结构物质形成、并在上述网格中含有与对象物质反应的试剂的结构体，对上述对象物质进行定量，其中，包括：使含有上述对象物质的试样接触于上述结构体的接触步骤；在因上述对象物质与上述试剂的反应而增加或减少的物质正在增加或减少的过程中，以上述试样与上述结构体的接触界面为基准，检测上述结构体内的上述增加或减少的物质的检测步骤；和，根据上述检测步骤的结果进行上述对象物质定量的定量步骤；上述结构体的网格，至少使上述对象物质通过。 | ||
| 搜索关键词： | 对象 物质 定量 方法 芯片 | ||
【主权项】：
1.一种定量方法，使用由三维网格结构物质形成、并在所述网格中含有与对象物质反应的试剂的结构体，对所述对象物质进行定量，其特征在于：包括：使含有所述对象物质的试样接触于所述结构体的接触步骤；在因所述对象物质与所述试剂的反应而增加或减少的物质正在增加或减少的过程中，以所述试样与所述结构体的接触界面为基准，检测所述结构体内的所述增加或减少的物质的检测步骤；和根据所述检测步骤的结果进行所述对象物质的定量的定量步骤；所述结构体的网格，至少使所述对象物质通过。
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