[发明专利]曝光装置及器件制造方法有效
| 申请号: | 200480015978.X | 申请日: | 2004-06-18 |
| 公开(公告)号: | CN1802726A | 公开(公告)日: | 2006-07-12 |
| 发明(设计)人: | 蛯原明光 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼康 |
| 主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;G03F7/20 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 车文;樊卫民 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 液压静力衬垫(32)和液压静力衬垫(34)保持晶片(W)和其上安置该晶片的台(TB)。液压静力衬垫(32)将轴承表面和晶片(W)之间在投影光学系统(PL)的光轴方向上的距离维持在预定值。另外,因为液压静力衬垫与静压气体轴承不同,液压静力衬垫利用在轴承表面和支撑物体(衬底)之间的不可压缩的流体(液体)的静压,所以轴承的刚度很高而且在轴承表面和衬底之间的距离维持稳定和恒定。此外,液体(如纯水)的粘滞度比气体(如空气)高,在振荡阻尼方面也比气体好。因此,在不一定必须布置焦点位置探测系统的情况下,可以实现转印到晶片(衬底)上的图案基本上没有散焦。 | ||
| 搜索关键词: | 曝光 装置 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种曝光装置,该曝光装置用能量束照射图案,并通过投影光学系统将所述图案转印到衬底上,所述曝光装置包括:安置衬底的台,该台能够在保持所述衬底的同时二维移动;和布置在所述投影光学系统的像平面侧上的液压静力轴承单元,所述单元包括至少一个液压静力轴承,所述至少一个液压静力轴承在面对安置在所述台上的所述衬底的轴承表面和所述衬底之间的空间中供给液体,从而通过所述液体的静压维持在所述轴承表面和所述衬底的表面之间的距离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社尼康,未经株式会社尼康许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480015978.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:通过重叠字计数的在线随机性测试
- 下一篇:安装冰箱压缩机的连接组件的紧固装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





