[发明专利]延迟故障测试方法、相关系统和电路

摘要

一种测试方法，包括将时钟信号选择性地施加到目标电路。在一个示例性实施例(300)中，分析一个具有逻辑电路的目标电路(332)的延迟故障，所述逻辑电路响应于具有至少一个时钟周期的操作时钟信号(308)来处理数据。将测试信号施加到该逻辑电路，与此同时利用具有在操作时钟(308)的至少一个时钟周期期间出现的几个时钟状态跃变的高速测试时钟(309)来钟控该逻辑电路。分析来自该逻辑电路的输出的状态(例如被电路中的延迟所影响)。将延迟故障检测为该逻辑电路的输出的状态差异。利用该方法，利用在正常(例如慢的)速度下操作的传统测试器(340)来测试电路，同时为了检测其中的速度相关的故障而在较高速度下选择性地钟控该电路的所选择部分。

主权项

1、一种用于电路测试器的延迟故障测试方法，该电路测试器具有用于在测试模式中运行目标电路的控制信号，该目标电路具有响应于一个具有至少一个时钟周期的操作时钟信号来处理数据的逻辑电路，该方法包括：提供一个具有在所述至少一个时钟周期内出现的至少四个时钟状态跃变的测试时钟信号(110、120、130、140、150、160)；同时利用该电路测试器来运行该目标电路以及利用该测试时钟信号来运行该逻辑电路，从而使得该逻辑电路产生一个输出信号，其中该电路测试器利用该操作时钟信号来运行该目标电路；以及在该电路测试器处接收和处理该输出信号(170)，从而检测该目标电路中的延迟故障(180)。