[发明专利]HDP-CVD多步间隙填充处理无效
申请号: | 200480015296.9 | 申请日: | 2004-06-02 |
公开(公告)号: | CN101044598A | 公开(公告)日: | 2007-09-26 |
发明(设计)人: | 茨欧·J·卡勒姆;比可姆·卡泊尔;王安川;李冬青;小关胜成;曼杰·维莱卡尔;李庄 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/30 | 分类号: | H01L21/30;C23C14/32;C23C16/00 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 赵飞 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种利用HDP-CVD沉积、刻蚀和沉积步骤的循环进行的间隙填充处理。第一沉积步骤期间的流动气体包括诸如He之类的惰性气体,剩余部分沉积步骤期间的流动气体包括H2。第一沉积步骤期间流动气体的较高平均分子量在限定间隙的结构上提供了某些尖头,以在刻蚀步骤期间保护这些结构。剩余部分沉积步骤期间流动气体的较低平均分子量减少了溅射特性,并且可以有效地填充间隙的剩余部分。 | ||
搜索关键词: | hdp cvd 间隙 填充 处理 | ||
【主权项】:
1.一种用于沉积膜以填充衬底表面中的间隙的方法,所述方法包括:使用第一气体混合物在高密度等离子体化学气相沉积(HDP-CVD)处理中在所述间隙中沉积所述膜的第一部分,所述第一气体混合物包括含硅气体、含氧气体和第一流动气体;其后,以含氟气体刻蚀所述膜;以及其后,使用剩余部分气体混合物在HDP-CVD处理中在所述间隙中沉积所述膜的剩余部分,所述剩余部分气体混合物包括含硅气体、含氧气体和第二流动气体,其中所述第二流动气体的平均分子量比所述第一流动气体小。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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