[发明专利]图案曝光中焦点偏移量的测量方法及图案曝光方法无效

专利信息
申请号: 200480014864.3 申请日: 2004-05-28
公开(公告)号: CN1799122A 公开(公告)日: 2006-07-05
发明(设计)人: 福本博文;氏丸直彦;旭宪一;岩本文男 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L21/027 分类号: H01L21/027;G03F7/20
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 胡建新
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 用不同的焦距值在第1基板上曝光形成多组包括由抗蚀剂膜构成的预定形状的凸图案和具有形状与上述凸图案相对应的间隙的凹图案的第1测量图案,测量上述多组第1测量图案的边缘倾斜量,根据上述边缘倾斜量与上述焦距值的对应关系(7)、(14)求出上述边缘倾斜量的焦距依存性(17)。在第2基板上形成包括上述凸图案和上述凹图案的第2测量图案,测量上述第2测量图案的边缘倾斜量,根据上述边缘倾斜量的焦距依存性从上述第2测量图案的边缘倾斜量算出上述第2测量图案曝光时焦距偏离最佳焦距的量。将上述凸图案和上述凹图案的间隙尺寸设定为不同的值,使各图案曝光时的最佳焦距值接近。
搜索关键词: 图案 曝光 焦点 偏移 测量方法 方法
【主权项】:
1.一种焦距偏移量的测量方法,在第1基板上形成多组第1测量图案,使曝光时的焦距值不同,该第1测量图案包括由抗蚀剂膜构成的预定形状的凸图案和具有形状与上述凸图案相对应的间隙的凹图案;测量上述多个第1测量图案中的上述凸图案和上述凹图案的边缘倾斜量;根据测量到的多个上述边缘倾斜量与多个上述焦距值的对应关系,求出边缘倾斜量的焦距值依存性,所述边缘倾斜量焦距值依存性作为表示上述边缘倾斜量随曝光时的焦距值变化而变化的特性;在第2基板上形成包括上述凸图案和上述凹图案的第2测量图案,并测量上述第2测量图案中的上述凸图案和上述凹图案的边缘倾斜量;根据上述边缘倾斜量的焦距依存性,由测量上述第2测量图案而得到的边缘倾斜量算出上述第2测量图案曝光时的与最佳焦距的焦距偏移量;其特征在于,将上述凸图案和上述凹图案的间隙尺寸设定为不同,以使各图案曝光时的最佳焦距值接近。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480014864.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top