[发明专利]全部质量MS/MS方法及设备有效
申请号: | 200480014818.3 | 申请日: | 2004-05-28 |
公开(公告)号: | CN1799119A | 公开(公告)日: | 2006-07-05 |
发明(设计)人: | A·马卡罗夫 | 申请(专利权)人: | 萨默费尼根有限公司 |
主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42;H01J49/38 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 李玲 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 公开了一种获取样品中的元素的质谱的方法,产生具有质荷比M1/Z1,M2/Z2,……MN/ZN的样品先驱离子,及在离解地点(192)被碎裂,从而产生质荷比m1/z1,m2/z2,……mn/zn的碎片离子。碎片离子被导入静电型或“轨道阱”型离子阱(130)中,碎片离子按先驱离子的M/Z比分组进入阱中。每组的质荷比是由离子在阱中的轴向运动确定的。阱中的电场被变形。因为电场的变形使轴向运动变成由除单独的m/z之外的其他因素决定,从不同先驱离子导出的具有相同m/z的离子随后被分开。 | ||
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【主权项】:
1,一种使用离子阱的质谱法的方法,包括:a)从样品产生多个先驱离子,每个离子具有从第一有限质荷比范围M1/Z1,M2/Z2,M3/Z3……MN/ZN内选出的质荷比;b)致使多个先驱离子中至少一些发生离解,以致产生多个碎片离子,它们每个具有从第二质荷比范围m1/z1,m2/z2,m3/z3……mn/zn内选出的质荷比;c)指引碎片离子进入一个离子阱,该离子阱包含产生使在其至少一个方向上俘获离子的电磁场的设备,在某一时刻进入阱中的离子是成群的,这由先驱离子的质荷比决定;d)根据阱内所述电磁场中那个或那些群中的离子的运动参数,确定至少一个离子群中的离子质荷比;以及e)使阱中的电磁场变形,以使能对阱内具有相同质荷比,但从不同先驱离子导出的碎片离子进行分离检测。
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