[发明专利]确保软打样系统的精确测量无效
| 申请号： | 200480014667.1 | 申请日： | 2004-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN1795667A | 公开（公告）日： | 2006-06-28 |
| 发明（设计）人： | C·J·埃奇;J·A·弗罗斯特 | 申请（专利权）人： | 柯达彩色绘图有限责任公司 |
| 主分类号： | H04N1/60 | 分类号： | H04N1/60 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;王忠忠 |
| 地址： | 美国康*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于在软打样系统中提供精确输出测量和校准的技术结合了提倡受控查看条件的一个或多个特征。例如，描述了一种软打样系统，其中管理员可通过在满足可接受的查看条件之前限制查看图像的能力来控制打样过程。例如，在查看台采用已知为支持查看台校准到小于或等于最大误差量的校准装置来校准之前，可限制查看图像的能力。采用受控查看条件、更具体来说是受控校准条件，软校样审阅者得到更统一的输出。这样，系统可提供安全措施来确保在查看台查看的图像具有可接受的色彩精度。 | ||
| 搜索关键词： | 确保 打样 系统 精确 测量 | ||
【主权项】：
1.一种软打样系统，包括：查看台，显示受图像的一个或多个查看条件支配的所述图像；以及校准所述查看台的测量装置，其中所述查看条件包括所述测量装置已知为支持所述查看台校准到小于或等于最大误差量的条件。
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