[发明专利]场效应晶体管布置和场效应晶体管布置的制造方法有效

专利信息
申请号: 200480013708.5 申请日: 2004-05-13
公开(公告)号: CN1791990A 公开(公告)日: 2006-06-21
发明(设计)人: 亚尔马·E·A·胡伊特马;巴尔特-亨德里克·胡伊斯曼 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: H01L51/40 分类号: H01L51/40;H01L51/05;H01L27/28
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明提供一种制造具有有机半导体的场效应晶体管的方法,特别是,具有互连结构的包括多个场效应晶体管的器件。这里,使用了用于四层的三个光刻掩模。为此,晶体管设置在顶栅结构中,并且有机半导体层(307)和电介质层(309)被一起结构化和图案化。可以从与场效应晶体管(300)或与第一和第二导体层(303、305、501)的交叉导体无关的区域除去半导体层(307)和电介质层(309)。
搜索关键词: 场效应 晶体管 布置 制造 方法
【主权项】:
1、一种制造电子器件的方法,在该方法中,在衬底(301)上设置至少一个场效应晶体管(300),其中设置所述至少一个场效应晶体管包括以下步骤:在该衬底(301)上施加(201)图案化的第一导体层(303、305);在该第一导体层(303、305)上施加(203)有机半导体层(307);在该半导体层(307)上施加(205)电介质层(309);对所述有机半导体层(307)和所述电介质层(309)一起进行图案化(207);并且在经过图案化的电介质层(309)上施加(209)图案化的第二导体层(501)。
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