[发明专利]核磁共振测量系统无效
| 申请号： | 200480013094.0 | 申请日： | 2004-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN1788214A | 公开（公告）日： | 2006-06-14 |
| 发明（设计）人： | J·A·W·M·科维;P·C·J·M·亨德里克斯;P·斯图尔特;A·范登伊尔斯肖特;J·M·姆肯德瑞;M·白金汉;G·克雷格 | 申请（专利权）人： | 波克股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V3/00 | 分类号： | G01V3/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 顾峻峰 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供用来确定试样(1)的质量的磁共振测量方法，其中，确定磁场均匀性，对于测量系统中可能的漂移提供补偿，且确定试样中的金属存在。该方法包括在一问讯区域(103)内沿一第一方向施加一磁场，以在位于问讯区域(103)内的一试样(1)内形成一纯磁化；在问讯区域(103)内沿一第二方向施加一变化的磁场，以暂时地改变位于问讯区域(103)内的试样的纯磁化；当试样的纯磁化返回到其原始状态时监视由试样(1)发射的能量，并产生一具有正比于发射能量的特征的输出信号；以及比较监视的输出信号与其它数据。 | ||
| 搜索关键词： | 核磁共振 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一用于确定生产线中的试样质量的磁共振方法，包括：在一问讯区域内沿第一方向施加一第一磁场，以在位于问讯区域内的一试样内形成一纯磁化；在一问讯区域内沿不同的第二方向施加一变化的磁场，以便暂时地改变位于问讯区域内的试样的纯磁化；当试样的纯磁化返回到其初始状态时监视由试样发射的能量，并产生一具有与发射的能量成正比的特征的输出信号；将输出信号特征与从已知质量的至少一个类似试样中获得的类似数据进行比较；以及确定试样的质量；其特征在于：对试样施加一90°激励的RF自旋脉冲；监视试样的自由诱发衰减能量，并且产生和测量与其对应的自旋输出信号的特征；对试样施加一180°激励的RF回射脉冲；监视发射的回射诱发的能量，并且产生和测量与其对应的回射输出信号的特征；以及比较自旋输出信号的特征和回射输出信号的特征之间的数学关系。
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